样品要求：块状和薄膜样品，长宽小于10mm，厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm)；粉末样品，不少于10mg；
无法测试含氟单质材料；样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样，样品接触空气容易受C，N，O，Si等元素污染，测试结果可能会有误差；
样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性，无磁性，无挥发性等； 固态样品：片状、块状或粉末。 另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候， 对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。
+86
预约提交
常见问题
1、单个元素如果测有不同轨道的谱图，定量以哪个为准？
定量时以元素的特征轨道谱图为准，如果存在多个轨道，切忌重复计算；
2、样品不含碳元素，测出来很高，是经过碳污染了吗？XPS测试时候会不会另外引入碳？
XPS测试过程中不会人为的引入碳，任何样品一旦接触空气都会吸附空气中的碳，引起碳污染。对于不含碳元素的样品，因为碳污染，C元素测试结果在60%左右都有可能；
若样品不含C元素，最好提供样品的详细信息，包含哪些元素。测试老师可以根据样品中已有的元素来进行定标校准，以保证结果的准确性；
3、XPS分峰的大概步骤是什么？
XPS分峰需要结合其他测试以及样品的实际情况，需要知道样品的详细合成过程等，比较复杂；先确定有多少个峰，打个比方，拟合C的时候，根据材料或者红外拉曼等结果，确定样品中有C-C，C-O，C=O三个键，那就分三个峰，对应好结合能，慢慢调这三个峰的半高宽，越接近越好；
4、XPS数据处理时，用碳元素进行电荷校正时和分峰的先后顺序是？
一般来说都是先通过碳对谱图进行校正，只有个别C-C结构峰不明显时需要分峰后再校正；