样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm);粉末样品,不少于10mg;
无法测试含氟单质材料;样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,测试结果可能会有误差;
样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性,无磁性,无挥发性等; 固态样品:片状、块状或粉末。 另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候, 对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。

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常见问题
1、单个元素如果测有不同轨道的谱图,定量以哪个为准?
定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;
2、样品不含碳元素,测出来很高,是经过碳污染了吗?XPS测试时候会不会另外引入碳?
XPS测试过程中不会人为的引入碳,任何样品一旦接触空气都会吸附空气中的碳,引起碳污染。对于不含碳元素的样品,因为碳污染,C元素测试结果在60%左右都有可能;
若样品不含C元素,最好提供样品的详细信息,包含哪些元素。测试老师可以根据样品中已有的元素来进行定标校准,以保证结果的准确性;
3、XPS分峰的大概步骤是什么?
XPS分峰需要结合其他测试以及样品的实际情况,需要知道样品的详细合成过程等,比较复杂;先确定有多少个峰,打个比方,拟合C的时候,根据材料或者红外拉曼等结果,确定样品中有C-C,C-O,C=O三个键,那就分三个峰,对应好结合能,慢慢调这三个峰的半高宽,越接近越好;
4、XPS数据处理时,用碳元素进行电荷校正时和分峰的先后顺序是?
一般来说都是先通过碳对谱图进行校正,只有个别C-C结构峰不明显时需要分峰后再校正;