仅针对材料类样品，要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
样品要求：
粉体需10mg左右，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试请备注；
块体长宽高需小于10mm（超出该尺寸需联系平台确认，镶嵌样及多孔材料抽真空时间较长，尺寸尽量小一些，非特殊原因请务必按要求制样）；
液态或粘稠样品务必烘干寄样，如电子束照射下流动变形，则无法拍摄，（一般情况下，测试老师根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上）；
喷金处理：
对于不导电或导电性差的样品，增强样品的导电性，默认喷金时长50s；粉末样品喷金形成连续金膜固定，避免高真空抽走。
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薄膜及块状样品需注明测试面；液体是否稀释；粉体是否分散
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常见问题
1、不导电或导电差的样品，为什么要喷金？
SEM成像，是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好，会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动等现象，喷金后样品表面导电增强，从而避免积电现象。
2、SEM粉末样品制样时，基底如何选择？
分散性比较好的样品直接分散在导电胶上测试即可；
如果样品容易团聚，最好通过溶剂超声分散滴膜测试，基底的选择通常有硅片、铜片，铜片相比硅片，导电性更好；如果需要测试能谱，注意基底的选择不能干扰样品信息，如关注铜元素，最好选择硅片作为基底；
3、SEM测试中，样品喷金/碳的作用？如何选择喷金还是喷碳？
用扫描电镜观察时，当入射电子束打到样品上，会在样品表面产生电荷的积累，形成充电和放电效应，影响对形貌图的观察和拍照记录。因此在观察之前要进行导电处理，喷金或喷碳，使样品表面导电；
一般拍形貌，喷金（Au、Pt）清晰度更好，Au颗粒是5nm左右，Pt是2nm左右，理论上Pt尺寸小，对形貌的影响更小，更合适一些；但是由于Au和 Pt的峰可能会对其他元素的能谱有影响，而碳的结合能比较低，基本无影响，如存在与Au和Pt峰重叠的元素存在，这时喷碳更合适，测试时可针对样品成分区别进行选择；