仅针对材料类样品,要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
样品要求:
粉体需10mg左右,常规粉末直接粘到导电胶上测试,如需分散后测试请备注;
块体长宽高需小于10mm(超出该尺寸需联系平台确认,镶嵌样及多孔材料抽真空时间较长,尺寸尽量小一些,非特殊原因请务必按要求制样);
液态或粘稠样品务必烘干寄样,如电子束照射下流动变形,则无法拍摄,(一般情况下,测试老师根据样品要求及实验室条件,随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上);
喷金处理:
对于不导电或导电性差的样品,增强样品的导电性,默认喷金时长50s;粉末样品喷金形成连续金膜固定,避免高真空抽走。

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薄膜及块状样品需注明测试面;液体是否稀释;粉体是否分散
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常见问题
1、不导电或导电差的样品,为什么要喷金?
SEM成像,是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好,会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging),最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动等现象,喷金后样品表面导电增强,从而避免积电现象。

2、SEM粉末样品制样时,基底如何选择?
分散性比较好的样品直接分散在导电胶上测试即可; 如果样品容易团聚,最好通过溶剂超声分散滴膜测试,基底的选择通常有硅片、铜片,铜片相比硅片,导电性更好;如果需要测试能谱,注意基底的选择不能干扰样品信息,如关注铜元素,最好选择硅片作为基底;

3、SEM测试中,样品喷金/碳的作用?如何选择喷金还是喷碳?
用扫描电镜观察时,当入射电子束打到样品上,会在样品表面产生电荷的积累,形成充电和放电效应,影响对形貌图的观察和拍照记录。因此在观察之前要进行导电处理,喷金或喷碳,使样品表面导电;
一般拍形貌,喷金(Au、Pt)清晰度更好,Au颗粒是5nm左右,Pt是2nm左右,理论上Pt尺寸小,对形貌的影响更小,更合适一些;但是由于Au和 Pt的峰可能会对其他元素的能谱有影响,而碳的结合能比较低,基本无影响,如存在与Au和Pt峰重叠的元素存在,这时喷碳更合适,测试时可针对样品成分区别进行选择;