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一、样品要求：

1、样品形态：必须是薄膜（做在基底上面的薄膜也可以，基底不能有导电性），薄片，或者粉末压片（自己压制成合适尺寸）（一般都是半导体材料）。如果是做在基底上面的薄膜，那么薄膜要稍微厚一点，薄膜的厚度需要自己确认好，包括纯薄膜的厚度以及薄片或者压片的厚度都要确认好，到时候测试时需要输入仪器进行计算的。

2、尺寸：8-11mm见方的圆片或者方片（最好是10mm见方的尺寸），导电层厚度在10-500nm之间最佳，整体厚度不超过2mm，样品需要均匀、平整，不能有孔洞、褶皱等缺陷；

  粉末：提供3ml体积样品。

3、样品电阻不要超过200MΩ；当样品电阻超过100Ω时，需要制备金属电极，金属电极共四个，位于正四边形的四个顶角处，由实验室制作。

二、项目简介：

     霍尔迁移率、载流子类型、载流子浓度、霍尔系数、电阻率。

三、结果展示：