- 产品详情
- 产品参数
一、样品需求：
1. 使用电压200KV/300KV；
2. 粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
3. 样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可做FIB减薄或其他方法至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；
4. 一般制样选普通铜网或微栅铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；若样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；
5. 若需要负染制样，请先联系何经理13922123556或莫经理18802061357。
6. 磁性样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用，若造成设备损坏，维修费用须由您全部承担！
二、项目简介：
1，粉体、液体、可测试，薄膜或块状样品不能直接拍摄，需另行制样（如离子减薄、包埋切片、FIB等）；
2，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一点，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判定颗粒大小）；
3，一般制样选微栅铜网即可，如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等；
4，强磁样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样；强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动，会影响拍摄效果以及周期；因磁性抖动导致的效果不佳，不安排复测；
5，请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；且须赔偿原订单金额的两倍费用！!若造成设备损坏，维修费用须由您全部承担；
6，若样品需要特殊条件保存，请下单前联系工作人员确认。
三、常见问题：
1. 能现场测试吗？寄样的话，我不在旁边怎么才能拍到我要的图片？
寄样测试：SEM或TEM，会给到您一个测试单，您把对应的制样要求（分散剂、超声时间、铜网等）、测试要求（标尺、拍摄位置、形貌效果等）、测试目的等写清楚，测试老师会按您指定的要求来拍
2. 一个样品会提供几张图片？默认拍摄逻辑如何？
每样品15张左右，具体根据样品的拍摄情况而定；拍摄逻辑一般是选取2-3个有代表性的区域，具体区域逐级放大拍摄。
3. JPG、TIFF、DM3的区别
JPG和TIFF均是图片格式，可以直接打开，也可以用DM软件处理； DM3格式是Gatan公司的特有格式，配有DM软件打开分析处理。
4. DM软件常用的处理步骤
1. 将tif等图片格式的TEM照片拖入DM软件，然后转换图片格式（Edit-Change Date Type-Integer,4-一直点确认）；
2. 软件内标尺的确认。先用虚线照图中原有标尺画一条同等长度的线，然后（Analysis-Calibrate-看图操作）；
3. FFT（傅里叶）变换：按住Ctrl+Alt,画一个虚线框，再将框拖至你所要分析的图片位置，然后（Process-FFT）；
4. Inverse FFT:在FFT图中右键（选择要分析的是点，环等），然后（Process-Apply Mask-Process-Inverse FFT）；
（PS：要获得晶面间距的数据就需要在反FFT的图中获得）
具体可下载资料查看：tif等图片格式导入DM软件数据处理的教程
5. 让TEM照片中某个区域内的晶格条纹变得更加清晰的步骤
1. 用虚线框工具Ctrl+Alt（必须选择2的n次方的面积图形，这影响后面的FFT变换）——Ctrl+C-Ctrl+V——右键新建一个图像方框，并将复制粘贴后的图形拖入到该图像方框中——在原图中添加一个带有数字长度单位的标尺（右键-layout-第一个）——把标尺拖入新建的图像方框，并将它转到新的Workspace处理。
2. 更清晰（导出反FFT图然后与原图层叠加）；叠加方式：Process-Simple Math（选择“a+b”）。
6. 形貌图片或高分辨图片，不清楚，比较糊
1. 样品含有机物或有磁性，高压下抖动比较厉害，很难抓拍出好的效果；
2. 样品颗粒大且厚，没有薄区；（备注：一般看形貌，要求样品厚度小于100nm，看高分辨或晶格，样品厚度要小于5-10nm）
3. 衬度不好
备注：TEM衬度是指在正焦或微微欠焦状态下样品的清晰度，即样品跟背景的反差，主要影响因素有：（1）样品厚度（越薄越好，要求100nm以下）；（2）样品含有的元素序数（元素序数大的好一些）；（3）电镜自身分辨率；（4）部分分散剂如甲苯、丙酮等，也会导致衬度较低）。
高分辨比常规形貌，对样品的磁性、厚度、稳定性等要求更高，影响也更大
7. 高分辨图片，给到的晶格条纹效果不好
1 . 样品结晶性不好，晶格就会不清楚；
2. 衬度不好，衬度是指样品跟背景的反差，金、银等金属的晶格会相对强一些，但像碳之类的，晶格会弱一些，一般晶格不清楚都是轻的元素，重的元素还好；
3. 仪器本身原因，无法控制，高倍下图片一直在抖，不是保持不变，老师根据经验抓拍，一般会多拍几张筛选后数据才发过来；
4. 对高分辨要求较高，比如要求2nm晶格且分辨率很高，建议尝试球差，常规电镜一般可拍摄最小标尺5nm左右，实际拍摄效果跟样品有关。
8. 给到的形貌图团聚，没有分散或单颗图片
如测试单写明要求拍单颗或分散比较好的形貌，但给到的仍是团聚图片，多半是因为样品团聚比较厉害，无法超声开，具体可与科学指南针工作人员确认。
像量子点样品，或一个视野要求看到几十个颗粒，为方便老师测试，最好由客户自己提供对应浓度和超声时间（先在低倍下尝试，根据低倍的图片来调整浓度），不然我们测试时很难提供到合适的浓度。
9. 能谱数据，mapping效果不好
mapping与样品厚度、样品对于电子束是否敏感关系较大
1. 样品厚度太大，mapping扫不出信号，一般300-30nm比较好；
2. 样品是有机物（不建议做MAPPING，做高分辨也不是很合适，容易被电子束打坏），扫久了会积碳，会拍不了；
3. 样品是磁性样品，能谱分1代能谱和2代能谱，因为磁性样品对仪器有损伤，一般愿意给拍磁性样品的仪器会相对老一些，配的能谱基本都是1代能谱，马赛克点比较大，较糊。
10. 对于包裹类大颗粒物质，未拍到包覆层形貌或者高分辨包覆层形貌
1. 未包覆成功或者包覆很少，拍摄时候很难找到包覆层形貌；
2. 样品颗粒太大，厚度较厚，很难拍摄到。
11. 我样品DLS测出的粒径是10nm，为啥TEM测出来的是20nm
测试原理不同，TEM为图片结果，是样品真实形貌，其他测试由曲线得出的颗粒尺寸为计算值。
12. 样品为异质结类样品，两相晶格没拍出来或拍出效果不好
能是因为其中一相的晶体不是很好，拍摄时长时间照射，转化为非晶体了，即如需在一张照片里拍出两种晶格，需要样品交界处结晶性较好，且耐电子束，一般双相可以拍出，但三相较难在一张图片里呈现